半导体
半导体设备是我们当今技术的核心。考虑到科技的飞速发展，为帮助用户在这一充满活力的行业保持高质量，安东帕为确定半导体性质提供了众多解决方案——从密度和浓度测量到表面电荷分析。请在下面的仪器列表中找出满足您特殊需要的测量仪器，或者直接联系我们，让我们帮您找出更佳的解决方案。
Anton Paar 产品
SAXS/WAXS/GISAXS/USAXS/RheoSAXS 实验室光束线装置：
SAXSpoint 5.0
SAXSpoint 5.0
动态光散射仪：
Litesizer DLS
Litesizer DLS
台式密度计：
DMA
DMA
在线声速传感器：
L-Sonic 5100
L-Sonic 5100
在线密度计：
L-Dens 3300
L-Dens 3300
在线密度计：
L-Dens 7400
L-Dens 7400
在线密度计：
L-Dens 7500
L-Dens 7500
密度计：
DMA 4200 M
DMA 4200 M
微波消解平台：
Multiwave 5000
Multiwave 5000
液体密度传感器：
L-Dens 2300
L-Dens 2300
用于半固体和固体密度的气体比重计：
Ultrapyc
Ultrapyc
电动固体表面分析仪：
SurPASS 3
SurPASS 3
粒度分析仪：
PSA
PSA
纳米划痕测试仪：
NST³
NST³
纳米压痕测试仪：
(NHT³)
(NHT³)
自动化多用途粉末 X 射线衍射仪：
XRDynamic 500
XRDynamic 500
落球式黏度计：
Lovis 2000 M/ME
Lovis 2000 M/ME
表面力学测试平台：
Step
Step
超纳米压痕测试仪：
UNHT³
UNHT³
高真空气体吸附分析仪：
Autosorb
Autosorb
高真空气体吸附分析仪：
Autosorb 6100
Autosorb 6100
高真空气体吸附分析仪：
Autosorb 6200
Autosorb 6200
高真空气体吸附分析仪：
Autosorb 6300
Autosorb 6300
高端多功能折光仪：
Abbemat
Abbemat
