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颗粒特性分析

New horizons in particle analysis

您对颗粒越了解,就越能预测材料的性能。为进行这些研究, 您需要测量的参数包括粒径、孔径、颗粒形状、内部结构、 zeta 电位、表面积、反应面积、密度、粉体流动等。安东帕提供的仪器产品 能够完成上述所有测量和其他测量——可以说是单一全球供应商能够提供的最广泛 的颗粒特性分析产品组合。

充分利用众多产品选择以及在该领域长达十年的专业优势——只需 联系安东帕。

技术、参数、仪器:找到最适合您需要的仪器!

点击参数了解安东帕在特定的颗粒特性分析领域提供哪些技术。也可以利用表中的筛选器来着重搜索某项特定技术,并获取不同测量范围的相关信息。

点击仪器,就能看到该仪器的详细特性和规格。

孔径
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粒径
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表面积
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样品制备
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密度
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反应面积
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蒸汽吸收
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通孔孔隙度
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颗粒形状
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zeta 电位
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粉体流动性
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储气量
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测量
技术
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测量

技术

分散类型

测量范围
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蒸汽吸收 重量法水蒸汽吸附测量 Dry
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表面积 气体吸附 (BET), 动态流动 BET 分析 可测量的最小表面积
0.1 m²/g
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表面积、孔径 气体吸附 表面积、孔径
2 nm — 500 nm(使用氮或氩气)
0.35 nm — 2 nm(使用碳上的二氧化碳)
可测量的最小表面积
0.1 m²/g
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表面积、孔径 气体吸附(物理吸附、化学吸附) Dry 孔径范围
0.35 nm - 500 nm
可测量的最小表面积
0.0005 m²/g 以上(使用氪气)、0.01 m²/g 以上(使用氮气)
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密度 整体密度 干燥 体积范围
1 cc
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反应面积 其他吸附(化学吸附) 干燥
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反应面积 气体吸附(化学吸附) 干燥
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样品制备 真空或流动脱气 干燥
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储气量 高压气体吸附 干燥
粒径 动态光散射 液体 粒径范围
0.3 nm – 10 µm
粒径、Zeta 电位 动态光散射、电泳光散射 (ELS)、静态光散射 (SLS) 液体 粒径范围
0.3 nm – 10 µm
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样品制备 真空、流动脱气 干燥
粉体流动性 多种粉体流变测量方法 干燥、液体 粒径范围
5 nm - 5 mm
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密度 气体比重瓶测定法 体积范围
0.025 cc
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样品制备 代表性抽样 干燥 体积范围
20 cc
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表面积、孔径 气体吸附 干燥 孔径范围
0.35 nm — 500 nm / 2nm — 500 nm(使用氮或氩气)
0.35 nm — 2 nm(使用碳上的二氧化碳)
可测量的最小表面积
0.01 m² / g
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通孔孔隙度 气体比重瓶测定法 干燥 体积范围
1 cc
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密度 气体比重瓶测定法 干燥 体积范围
1 cc
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孔径 孔隙度测定法 干燥 体积范围
0.05 cc
孔径范围
1100 - 0.0064 µm
粒径 激光衍射 干燥/液体 粒径范围
0.1 μm(干)0.04 μm(湿)至 500 μm
粒径 激光衍射 干燥/液体 粒径范围
0.1 μm(干)0.04 μm(湿)至 2500 μm
粒径 激光衍射 干燥/液体 粒径范围
0.3 μm(干)0.2 μm(湿)至 500 μm
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表面积、孔径 气体吸附 干燥 孔径范围
0.35 nm — 500 nm
0.35 nm — 2 nm(使用碳上的二氧化碳)
可测量的最小表面积
0.01m²/g;0.0005 m²/g
粒径、颗粒形状和内部结构 SAXS、WAXS、GISAXS 干燥/液体 粒径范围/孔径范围
< 1nm - 105 nm(q 范围 (Cu Kalpha):0.03 nm⁻¹ to 41 nm⁻¹)
粒径、颗粒形状和内部结构 SAXS、WAXS、GISAXS 干燥/液体 粒径范围/孔径范围
< 1nm - 160 nm(q 范围 (Cu Kalpha):0.02 nm⁻¹ 至 41 nm⁻¹)
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通孔孔隙度 气体比重瓶测定法 干燥 体积范围
1 cc
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密度 气体比重瓶测定法 干燥 体积范围
1 cc
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蒸汽吸收 蒸汽吸附 干燥
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样品制备 真空脱气 干燥

安东帕颗粒特性分析解决方案

颗粒粒度分析仪

颗粒可能非常复杂,但颗粒分析不一定复杂。Litesizer 和 PSA 系列可一键实现粒度测量, 另外还可以提供其他功能:

  • Litesizer 系列:动态光散射可在 纳米到微米范围内进行颗粒粒度分析,包括 zeta 电位、分子量、 透光率和折光率测量
  • PSA 系列:激光衍射可用于 上至毫米范围的液体和干燥分散体的粒度分析
  • 专用配件可利用自动样品转移等技术对有机溶液中的少量样品进行测量。
  • 聚焦颗粒:Kalliope 软件可为这两款仪器提供服务,将操作员 工作难度降至最低

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粉体流变测量

真正先进的粉体流变测量,将各种传统的流变学 方法和数十年的经验引入颗粒介质领域:

  • 著名的 MCR 流变仪拥有出色精度,已升级为用途多样且功能强大的 粉体流变仪。
  • 通过全自动测量模式实现高重现性
  • 用于质量控制和科学目的的多种测量模式
  • 凭借可更换的测量系统和灵活的软件,可实现 从料斗设计到分离测试的表征,以及先进的流化床流变测量

更多详情

吸附分析仪

吸附分析的关键在于结合智能的仪器设计和先进的数据处理模型:

  • 产品线齐全,适用于蒸汽吸附、物理吸附、化学吸附 和高压吸附
  • 全自动系统,具有多站分析和样品 制备选项
  • 非常适合分析催化剂、药物、电池材料、吸附剂 和所有其他多孔材料的孔径、表面积以及气/固体 相互作用。
  • 世界知名的数据处理模型和快速测量报告, 适用于传统和复杂的新材料

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压汞法孔径分析仪

用于确定大孔材料孔隙率的最常用方法:

  • 专为提供最安全的汞处理操作体验而设计
  • 简化的液态汞导入和自动油 净化等特性,使 PoreMaster 成为最易使用的压汞法孔径分析仪
  • 通过 螺杆驱动与自动加压 程序的智能化控制,可以实现卓越的高压数据精度。
  • 液态汞填充、低压测量以及高压测量 通常可在 30 分钟内完成

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固体密度分析仪

从单一来源获取所有固体密度值——具备 最高准确度

  • 一款仪器组合,涵盖真实或骨架 密度、堆密度和几何密度的测量
  • 一流:
  • 安全、经济:无需液态汞即可 测量几何密度
  • 非破坏性气体置换法:使用惰性气体和纯净气体

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SAXS 系统

SAXSpace 和 SAXSpoint 2.0 小角度 X 射线散射系统为 纳米粒子研究 提供了出色的分辨率和最佳数据质量:

  • 卓越的 X 射线源和光学元件,提供最高光谱纯度和通量
  • 无散射光束准直以及先进的混合光子计数 (HPC) 检测器,提供高信噪比和极佳的总体数据质量。
  • 广泛的样品台 可在受控温度和环境下进行颗粒特性分析
  • 操作可靠,正常运行时间长,样品通量高, 维护成本低

更多详情

从点滴做起的专家

安东帕的仪器产品组合与其颗粒特性分析产品组合一样广泛,许多仪器都有一个 共同点:它们是同类仪器中的首款产品,且目前仍是各自领域的旗舰产品。例如,早在 1967 年就已发明的 PSA 是首款使用激光衍射技术的粒径 分析仪。安东帕制造了首款由 Otto Kratky 于 1957 年开发的商用小角度 X 射线散射(SAXS)摄像头。如今,安东帕的 SAXS 系统仍是 此项技术的基准。Quantachrome Instruments 是安东帕的一个品牌, 从 1968 年就开始迈向技术高峰。从那以后,科学家专业团队开发出各种 与用户紧密相联的创新成果,不断推出适用于多孔材料和粉末测量的 最佳解决方案。

利用安东帕的颗粒特性分析专业知识进行颗粒研究和材料研发。

除了各种各样的专用仪器,安东帕还提供广泛的应用咨询服务和应用信息。通过应用报告、安东帕维基百科安东帕博客和研讨会,您可以深入了解有关颗粒特性分析的话题,例如: 

利用这些资源和我们长期积累的颗粒特性分析专业知识探索新的应用领域,并在生产、质量控制和产品开发方面取得最佳成果。当然,您也可以直接与我们联系,咨询仪器和应用相关的任何问题。

联系我们

在安东帕技术中心获得实践操作体验。

您是喜欢去实地观察仪器的操作人员吗?看看我们的技术中心是否拥有您期望得到的仪器,或您所在地区是否计划开设颗粒特性分析研讨会。

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